C-SAM的叫法很多有掃描聲波顯微鏡或超聲波掃描顯微鏡或聲掃描顯微鏡(Scanning acoustic microscope

我司是德國ＫＳＩ公司的超聲波掃描顯微鏡在中國地區的總代理（掃描頻率最高可以達到２Ｇ）．掃描分辨率0.1微米.最小掃描範圍為0.25mm*0.25mm.   其主要是針對半導體器件 ,芯片，材料內部的失效分析．其可以檢查到:１.材料內部的晶格結構，雜質顆粒．夾雜物．沉澱物．2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 100M以上的頻率有絕對的優勝.能做其他品牌不能做的樣品.

代表客戶 廣達,長電,ST.美的，13所，清華大學，哈爾濱工業大學，環旭等

德國KSI超聲波掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界最先進的機器  
 WINSAM Vario III 超聲波掃描顯微鏡 
1～500MHz 

● 非破坏性材料內部結構測試 
● 快速的超聲波頻率設置 
● 全新的操作軟件簡單易用 
● 緊湊的模塊化設計 
● 廣氾應用於半導體工業，材料測試，生命科學等領域 



非破坏性失效分析： 


視覺效果 定量分析 自動控制  
－3D形貌再現 
－同時觀察多個層面 
－顯示樣品的機械性能（硬度，密度，壓力等） 
－實時超聲波飛時圖表（A-Scan） 
－縱向截面圖像（B-Scan） 
－XY圖像（C-Scan, D-Scan, 自動掃描, 多層掃描） 
－第二個監視器便於圖像的觀察和操作 －失效統計 
－柱狀圖顯示 
－長度測量 
－膜厚測量 
－多方式圖像處理 
－超聲波傳輸時間測量 
－無損傷深度測量 
－數字信號分析 
－相位測量 －自動XYZ掃描 
－自動存儲儀器參數 
－運用分層運算方法進行自動失效鑑別 
－自動濾波參數設置 
－換能器自動聚焦 
－高分辨率下自動進行高速掃描  

WINSAM Vario III 性能參數： 
● 頻率範圍：1～500MHz 
● 換能器選擇：5～400MHz 
● 掃描範圍：0.25×0.25mm～300×300mm 
● 掃描速度：1000mm/秒 
● 掃描機構分辨率：0.1μm 
● 掃描模式：A, B,C,D, G, X, 3D 
● 射頻增益80dB 
● 最小門限時間1ns 
● FFT 
● 阻抗測量，偽彩色表示 
● 圖像輸出可保存為BMP及SAM格式 
● KSI掃描操作軟件(Windows 2000 Prof. 或Windows XP操作系統)，SIS圖像分析軟件包  
● CD-RW 
● 儀器尺寸：200×65×130cm 

 clack wu 13826576722 szwkk3@188.com 
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