總代理）超聲波掃描顯微鏡世界最先進的測試設備C-SAM(SAT)測試 器件失效分析
C-SAM的叫法很多有掃描聲波顯微鏡或超聲波掃描顯微鏡或聲掃描顯微鏡(Scanning acoustic microscope
我司是德國ＫＳＩ公司的超聲波掃描顯微鏡在中國地區的總代理（掃描頻率最高可以達到２Ｇ）．掃描分辨率0.1微米.最小掃描範圍為0.25mm*0.25mm. 其主要是針對半導體器件 ,芯片，材料內部的失效分析．其可以檢查到:１.材料內部的晶格結構，雜質顆粒．夾雜物．沉澱物．2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 100M以上的頻率有絕對的優勝.能做其他品牌不能做的樣品.
代表客戶 廣達,長電,ST.美的，13所，清華大學，哈爾濱工業大學，環旭,航天625所，771所等
德國KSI超聲波掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界最先進的機器
WINSAM Vario III 超聲波掃描顯微鏡
1～500MHz
● 非破坏性材料內部結構測試
● 快速的超聲波頻率設置
● 全新的操作軟件簡單易用
● 緊湊的模塊化設計
● 廣氾應用於半導體工業，材料測試，生命科學等領域
非破坏性失效分析：
視覺效果 定量分析 自動控制
－3D形貌再現
－同時觀察多個層面
－顯示樣品的機械性能（硬度，密度，壓力等）
－實時超聲波飛時圖表（A-Scan）
－縱向截面圖像（B-Scan）
－XY圖像（C-Scan, D-Scan, 自動掃描, 多層掃描）
－第二個監視器便於圖像的觀察和操作 －失效統計
－柱狀圖顯示
－長度測量
－膜厚測量
－多方式圖像處理
－超聲波傳輸時間測量
－無損傷深度測量
－數字信號分析
－相位測量 －自動XYZ掃描
－自動存儲儀器參數
－運用分層運算方法進行自動失效鑑別
－自動濾波參數設置
－換能器自動聚焦
－高分辨率下自動進行高速掃描
WINSAM Vario III 性能參數：
● 頻率範圍：1～500MHz
● 換能器選擇：5～400MHz
● 掃描範圍：0.25×0.25mm～300×300mm
● 掃描速度：1000mm/秒
● 掃描機構分辨率：0.1μm
● 掃描模式：A, B,C,D, G, X, 3D
● 射頻增益80dB
● 最小門限時間1ns
● FFT
● 阻抗測量，偽彩色表示
● 圖像輸出可保存為BMP及SAM格式
● KSI掃描操作軟件(Windows 2000 Prof. 或Windows XP操作系統)，SIS圖像分析軟件包
● CD-RW
● 儀器尺寸：200×65×130cm
主要應用範圍：
· 晶元面處脫層
· 錫球、晶元、或填膠中之裂縫
· 晶元傾斜
· 各種可能之孔洞（晶元接合面、錫球、填膠…等）
· 覆晶構裝之分析
C-SAM的主要特性：
非破坏性、無損傷檢測內部結構
可分層掃描、多層掃描
實施、直觀的圖像及分析
缺陷的測量及百分比的計算
可顯示材料內部的三維圖像
對人體是沒有傷害的
可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附着物、空洞、孔洞、晶界邊界等）
C-SAM的主要應用領域：
半導體電子行業：半導體晶圓片、封裝器件、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
材料行業：復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；
生物醫學：活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等；
clack wu 13826576722 szwkk3@188.com
歡迎索取資料哦。四海內皆朋友
|
|
|
|
|
